什么是EMC傳導(dǎo)和輻射測(cè)試

　　EMC傳導(dǎo)和輻射測(cè)試是一種測(cè)試電子設(shè)備是否具有電磁兼容性的方法。當(dāng)設(shè)備中的電子元件發(fā)生輻射或傳導(dǎo)時(shí)，可能會(huì)干擾附近的電子設(shè)備或電路，甚至?xí)斐稍O(shè)備損壞或致命性故障。因此需要進(jìn)行EMC測(cè)試以保證設(shè)備的電磁兼容性。

　　EMC傳導(dǎo)測(cè)試方法

　　EMC傳導(dǎo)測(cè)試就是測(cè)試設(shè)備在使用時(shí)是否會(huì)將它自身的電磁干擾輻射到周?chē)脑O(shè)備或電路中去。測(cè)試方法通常分為射頻場(chǎng)、電場(chǎng)和磁場(chǎng)三種。其中，射頻場(chǎng)測(cè)試是采用很窄的頻率帶寬測(cè)量設(shè)備產(chǎn)生的電磁輻射，電場(chǎng)測(cè)試是通過(guò)在設(shè)備上施加電場(chǎng)，測(cè)量電位差流，磁場(chǎng)測(cè)試則是通過(guò)在設(shè)備上施加磁場(chǎng)，測(cè)量電位差流。這些測(cè)試方法的目的是要檢查設(shè)備是否符合EMC標(biāo)準(zhǔn)，并保證其電磁兼容性。

　　EMC輻射測(cè)試方法

　　EMC傳導(dǎo)測(cè)試是測(cè)量設(shè)備輻射干擾周?chē)O(shè)備和電路的能力，而輻射測(cè)試則是測(cè)量設(shè)備是否可以抵御周?chē)碾姶鸥蓴_。輻射測(cè)試方法通常分為輻射發(fā)射、輻射不敏感性、輻射抑制技術(shù)三種。其中，輻射發(fā)射測(cè)試是測(cè)試設(shè)備在使用時(shí)是否會(huì)產(chǎn)生電磁輻射，輻射不敏感性測(cè)試是測(cè)試設(shè)備是否具備抵御周?chē)姶泡椛涞哪芰?，而輻射抑制技術(shù)則是測(cè)試設(shè)備是否能夠向周?chē)行б种齐姶鸥蓴_。這些測(cè)試方法的目的是要檢查設(shè)備是否符合EMC標(biāo)準(zhǔn)，并保證其電磁兼容性。

　　EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

　　EMC測(cè)試主要依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)有以下三種：CISPR-16、磁場(chǎng)干擾測(cè)試規(guī)范和電磁兼容性基本標(biāo)準(zhǔn)（EMC基本標(biāo)準(zhǔn)），這些標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)試的種類(lèi)、測(cè)試條件范圍、限值要求以及測(cè)試方法。設(shè)備需符合EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，方能獲得電磁兼容性認(rèn)證，并達(dá)到統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)要求。

　　結(jié)論

　　EMC傳導(dǎo)和輻射測(cè)試通過(guò)檢測(cè)設(shè)備與周?chē)娮釉O(shè)備或電路之間是否具備電磁兼容性，有效排除了電子設(shè)備在使用時(shí)可能產(chǎn)生的干擾和故障，提高了設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。進(jìn)行EMC測(cè)試后，設(shè)備可以獲得電磁兼容性認(rèn)證，并達(dá)到EMC標(biāo)準(zhǔn)的統(tǒng)一要求，從而保證了設(shè)備的使用質(zhì)量和安全性。